Überblick
Die Rundumsoftware für Korrelations- und Spektroskopieanalysen in der Mikroskopie
Von der Mikroskopie zur Spektralanalyse in einem einzigen Workflow
Die neuen Wiley Oberflächen-Analysen sind eine umfassende und leistungsstarke Lösung für die Verarbeitung, Kombination und Analyse von durch unterschiedliche Mikroskopiertechniken gewonnenen Bildern und Daten. Um die Effizienz im Labor zu erhöhen, können Sie alle Abläufe über eine zentrale Schnittstelle steuern:
- Spektralauswertung und -analysen
- Verarbeitung von spektralen Abbildungen und Bildern
- Korrelationsanalysen
- 3D-Visualisierung von 2D-Kompositionsdaten
Es ist sogar ein weiterer Analyseschritt möglich: Die Spektren können an die KnowItAll-Software* von Wiley gesendet und zur näheren Untersuchung mit Spektrenbibliotheken abgeglichen werden.
Umfassende, integrierte Tools für effiziente Analysen | Unkomplizierte Integration durch flexible, anbieterunabhängige Technologie | Schnellere Gewinnung von Informationen durch Reduzierung auf einen Workflow |
Leistungsstarke Tools, die eine umfassende Verarbeitung und Analyse von Oberflächenbildern ermöglichen. |
Unterstützt verschiedene Dateiformate und Instrumententypen – auch mit einem anderen Instrument oder Mikroskop bleibt Ihr Workflow derselbe. |
Direkt von der Mikroskopie zur Spektralanalyse – alles in einem einzigen Workflow. So kommen Sie schneller zu Ihren Ergebnissen. |
Folgende Techniken werden unterstützt:
- Raman
- TERS
- IR
- nanoIR
- Fluoreszenz
- Photolumineszenz
- Kathodulumineszenz
- EDX/EDS und XPS
- Mit Erweiterungen für SEM, SPM, Partikelanalysen und Profilometrie
Unter „Kompatibilität“ finden Sie eine Liste der unterstützten Formate.
* Lizenz für KnowItAll (Software und Bibliotheken) erforderlich.
Details
Hier erfahren Sie, welche Funktionen in den einzelnen Paketen enthalten sind.
Wiley Oberflächen-Analysen – Basispaket
Wichtigste Funktionen
- Spektralauswertung und -analysen
- Verarbeitung von spektralen Abbildungen und Bildern
- Korrelationsanalysen
- 3D-Visualisierung von 2D-Kompositionsdaten
- Produkterweiterungen und zusätzlicher Support für Mikroskopie verfügbar
⇒ Spektralauswertung und -analysen
- Visualisierung und Analyse von Spektralserien und hyperspektralen Bildern
- Erstellung von Spektralabbildungen aus vom Benutzer gewählten Spektralbändern
- Erstellung von Parameterdarstellungen
- Multivariate Analysen zur Ermittlung relevanter Spektren und ihrer Verteilung
- Auswertungsmethoden: Basislinienkorrektur, Filterung, Ausgleichungsrechnung
- Versenden von Spektren per Mausklick an KnowItAll IDExpert* zur Suche in Raman-, IR- (FTIR, ATR, NIR) und UV-VIS-Datenbanken
* Lizenz für KnowItAll (Software und Bibliotheken) erforderlich.
⇒ Verarbeitung von spektralen Abbildungen und Bildern
- Verarbeitung von spektralen Abbildungen für Raman, Kathodulumineszenz, Photolumineszenz, Fluoreszenz, EDX/EDS (energiedispersive Röntgenspektroskopie) und EELS (Elektronenenergieverlustspektroskopie)
- Verarbeitungsmethoden für spektrale Abbildungen: Farbliche Vermischung der Schichten, Anpassung des Bildrauschens, Anpassung der Transparenz zwischen Schichten
- Verarbeitungsmethoden für Bilder: Visuelle Korrekturen und Verbesserungen, Glättung, Entfernung von Artefakten
⇒ Korrelationsanalysen
- Verknüpfung von Bildern und spektralen Abbildungen aus einem Instrument oder mehreren Instrumenten (Raman, EDS/EDX, Kathoduluminszenz, Fluoreszenz etc.)
- Zusammenlegung von Daten aus verschiedenen Quellen zu einem einzigen mehrschichtigen Datensatz
⇒ 3D-Visualisierung von 2D-Kompositionsdaten
- 3D-Visualisierung von chemischen 2D-Abbildungen durch Verknüpfung von Mikroskopiebildern oder topografischen Daten
Erweiterungen: Produkterweiterungen und Unterstützung weiterer Mikroskopietypen
Mit folgenden Erweiterungen werden weitere Mikroskopietypen unterstützt: Siehe
⇒ Erweiterung „SEM“
Mit Unterstützung für Rasterelektronenmikroskopie (Scanning Electron Microscopy, SEM):
- Gruppenweise Bildkolorierung
- Bildkorrekturen und -optimierungen
- Präzise Berechnung der Höhe und Oberflächenrauigkeit
- 3D-Rendering aus Bildern
- Verknüpfung von EDX/EDS-Daten und Bildern
⇒ Erweiterung „SPM“
SPM unterstützt Dateiformate für Rastersondenmikroskopie (STM, AFM etc.) und Mehrkanaldaten:
- Erweiterte Verarbeitungsmöglichkeiten (zeilenweise Regulierung, räumlicher Filter, Oberflächenunterteilung, Spitzendekonvolution, Zeilenkorrektur, Regulierung auf mehreren Ebenen)
- Mathematische Funktionen als Operatoren
⇒ Erweiterung „Partikelanalyse“
Partikelanalyse enthält einen umfangreichen Satz an Werkzeugen zum Analysieren von Partikeln, Hohlräumen, Maserungen, Inseln usw. auf strukturierten Oberflächen:
- Erkennung von Merkmalen anhand verschiedener Segmentierungsmethoden
- Einordnung der Partikel anhand der Form, Höhe oder Größe
- Berechnung von Kugelkappen
- Kolorierung
- Speichern von Klassifikationen zur späteren Wiederverwendung oder zum Teilen mit anderen
- Anwendung von Masken auf Partitionsoberflächen
⇒ Erweiterung „Profil-Ergänzung“*
Mit folgenden Profilometrie-Funktionen:
- Berechnung der Rauigkeit und Oberflächenstruktur
- Datenkorrektur (Sonderfälle, Fehler und Rauschen)
- Analyse der Oberflächengeometrie
- Zusammenfügen mehrerer Punktwolken (aus verschiedenen Winkeln gemessen) zu einer einzigen Punktwolke
* Nur als Erweiterung für die Enhanced Edition der Wiley Oberflächen-Analysen erhältlich (weitere Informationen siehe unten)
Wiley Oberflächen-Analysen – Enhanced Edition
Auch ein Premium-Paket Wiley Oberflächen-Analysen – Enhanced Edition ist erhältlich.
Es enthält die Funktionen des Basispakets und zusätzlich folgende Erweiterungen:
- Erweiterungen „Partikelanalyse“ und „SPM“ (Beschreibung siehe oben)
- Erweiterung „Chemische Würfel“:
Vollständige Visualisierung und Analysen von Mehrkanalwürfeln zur Generierung von Kompositionsdaten:- Vollwertige 3D-Verknüpfung von Tomographie und chemischen Materialanalysen
- Zugriff auf große Auswahl an Visualisierungs- und Animationseinstellungen für 3D-Würfel
- Extraktion von Scheiben als Farbbild
- Generierung von Partikel- und Maserungsstatistiken
Pakete im Vergleich
| Basispaket | Enhanced Edition | ||
| Unterstützung verschiedener Techniken | Raman, TERS, IR, nanoIR, Fluoreszenz, Photolumineszenz, Kathodulumineszenz, EDX/EDS, XRF | X | X |
| Unterstützung von hyperspektralen Bildern | Raman, IR, UV-Vis | X | X |
| SPM | Kraftmikroskopie (AFM, STM) | Erweiterung | X |
| Partikelanalyse | Werkzeugsatz für Bilder, die Partikelformen enthalten | Erweiterung | X |
| Chemische Würfel | Generierung von 3D-Würfeln aus 2D-Mehrkanaldaten | Nicht verfügbar | X |
| SEM | SEM | Erweiterung | Erweiterung |
| Profil-Ergänzung | Profilometrie | Nicht verfügbar | Erweiterung |
| KnowItAll (Software und Bibliotheken) | HINWEIS: Relevante, derzeit in diesem Workflow unterstützte KnowItAll-Spektraldatenbanken: IR, Raman, UV-VIS | Erweiterung | Erweiterung |
Kompatibilität
Unterstützt eine große Bandbreite an Dateiformaten und lässt sich daher nahtlos in bestehende Workflows integrieren
The Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Basic Package supports the following file formats.
| Spectroscopy |
| Attolight: Cathodoluminescence hypercubes |
| Anasys Instruments: NanoIR (*.axd, *.axz) |
| Bruker: Spectra and Hypercubes (*.0) |
| CS Instruments (*.nao) |
| Delmic: HDF5 Hypercubes (*.h5) |
| Edax: SPD Hypercubes (*.spd) |
| Flexible Image Transport System: Photon Etc (*.fits) |
| Gatan: Digital Micrograph 3 and 4 (*.dm3, *.dm4) |
| Harris Geospatial: ENVI software files (*.hdr) |
| Horiba: LabSpec 6 software files (*.h5, *.hdf5) |
| IGOR Wavemetrix: IBW (*.ibw) |
| Leica: Image file (*.lif, *.xlef, *.xlif, *.xllf, *.xlcf) |
| NT-MDT: Raman Hypercubes (*.mdt) |
| Oxford Instruments (Witec): H5OIWT (*.ardf, *.h5, *.hdf5, *.h5ebsd, *.h5oina, *.h5oiwt) |
| Photothermal (CytoSpec): ASCII file for mIRage (*.hvi) |
| Specs: 3DS Hypercubes (*.3ds) |
| Thermo Fisher: Advantage (*.vgd) |
| Thermo Fisher: Galactic (*.spc) |
| Thermo Fisher: OMNICxi MAPX file (*.mapx) |
| Tokyo Instruments (*.smd, *.s1d) |
| Scanning Electron Microscopes |
| Medical Research Council, UK: MRC (*.mrc, *.map) |
| Zeiss: Evo, Sigma, Merlin (*.sem3d, *.czi, *.zvi) |
| Generic & Other Manufacturing formats |
| Generic text file (ASCII, Unicode): 1D, 2D, 3D support. Note: Upon opening, a dialog will appear to specify how the data in the file is organized (*.txt, *.asc, *.dat) |
| Generic CSV format (*.csv) |
| Mountains: profiles and surfaces (*.pro, *.sur) |
| OBJ format(*.obj) |
| Omicron: SCALA (*.par) |
| Omicron: Matrix (*.mtrx, *_mtrix) |
| Polygon File format (*.ply) |
| STL/Triangulated surfaces (Stereo Lithography Format): An STL studiable can be imported as a shell or as a surface (*.stl) |
| Universal data file (SDF) (*.sdf) |
| Image formats |
| Windows Bitmap image (*.bmp) |
| EMF image (*.emf) |
| GIF image (*.gif) |
| JPEG image (*.jpg, *.jpeg) |
| PNG image (*.png) |
| TIFF image (*.tif, *.tiff) |
| TIFF surface (*.tif, *.tiff) |
| WMF image (*.wmf) |
Support for the file formats listed below is included for SPM add-on, when paired to the main configuration of Wiley Surface-to-Spectral Analysis.
| 2D/3D Profilometers (contact and non-contact) |
| Digital Surf (*.pro, *.sur, *.spro, *.ssur, *.disc) |
| Confocal, Interference and Focus variation Microscopes |
| NanoSystem: NanoView WLI (*.spm) |
| Scanning Probe Microscopes |
| AFMWorkshop (*.csv, *.wsf) |
| Agilent Technologies/Keysight: All AFMs, PicoMap (*.stp, *.mi, *.ivs) |
| Anfatec Instruments AG (*.txt) |
| Attocube (*.bcrf, *.bcr) |
| Anasys Instruments: NanoIR, AFM, SNOM (*.axd, *.axz) |
| APE Research (*.dat) |
| CSM Instruments/Anton Paar: NanoIndenter (*.sis) |
| Gwyddion: GSF Format (simple Fields), GWY format, DUMP format (*.gsf, *.gwy, *.dump) |
| Hitachi: Finetech AFM (*.afm, *.afp) |
| Image Metrology: BCR-STM format (*.bcr) |
| JPK: surfaces (*.jpk, *.jpk-qi-image, *.force) |
| JPK: force surves (*.jpk-force, *.jpk-force-map, *.jpk-qi-data) |
| Nanonics: MultiView (*.nan) |
| Nanonis: DAT (*.dat, *.sxm) |
| Nanoscan: PPMS-AFM (*.xml) |
| Nanosurf: Nanite, EasyScan, Nanosurf Report (*.ezd, *.nid) |
| NT-MDT: NTegra, Solver (*.mdt) |
| Omicron (*.flat) |
| Oxford Instruments (*.hdf5, *.ardf, *.h5ebsde, *.h5oina) |
| Park Systems/PSIA: XE series, PS-PTT (*.tif, *.ps-ppt) |
| Quesant/Ambios: Q-Scope (*.afm, *.txt) |
| RHK (*.sm3, *.sm4) |
| SII Nanotechnology: Nanopics, SPA-Series (*.xqt) |
Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition supports the file formats listed above for the main product configuration, plus these additional formats.
| Spectroscopy |
| Igor Binary Wave (*.ibw) |
| Specs: 3DS Hypercubes (*.3ds) |
| 2D/3D Profilometers (contact and non-contact) |
| Digital Surf (*.pro, *.sur, *.spro, *.ssur, *.disc) |
| Confocal, Interference and Focus variation Microscopes |
| NanoSystem: NanoView WLI (*.spm) |
| Scanning Probe Microscopes |
| AFMWorkshop (*.csv, *.wsf) |
| Agilent Technologies/Keysight: All AFMs, PicoMap (*.stp, *.mi, *.ivs) |
| Anfatec Instruments AG (*.txt) |
| Attocube (*.bcrf, *.bcr) |
| Anasys Instruments: NanoIR, AFM, SNOM (*.axd, *.axz) |
| APE Research (*.dat) |
| CSM Instruments/Anton Paar: NanoIndenter (*.sis) |
| Gwyddion: GSF Format (simple Fields), GWY format, DUMP format (*.gsf, *.gwy, *.dump) |
| Hitachi: Finetech AFM (*.afm, *.afp) |
| Image Metrology: BCR-STM format (*.bcr) |
| JPK: surfaces (*.jpk, *.jpk-qi-image, *.force) |
| JPK: force surves (*.jpk-force, *.jpk-force-map, *.jpk-qi-data) |
| Nanonics: MultiView (*.nan) |
| Nanonis: DAT (*.dat, *.sxm) |
| Nanoscan: PPMS-AFM (*.xml) |
| Nanosurf: Nanite, EasyScan, Nanosurf Report (*.ezd, *.nid) |
| NT-MDT: NTegra, Solver (*.mdt) |
| Omicron (*.flat) |
| Oxford Instruments (*.hdf5, *.ardf, *.h5ebsde, *.h5oina) |
| Park Systems/PSIA: XE series, PS-PTT (*.tif, *.ps-ppt) |
| Quesant/Ambios: Q-Scope (*.afm, *.txt) |
| RHK (*.sm3, *.sm4) |
| SII Nanotechnology: Nanopics, SPA-Series (*.xqt) |
Support for the file formats listed below is included for Profiler Extension add-on, when paired to the Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition.
| 2D/3D Profilometers (contact and non-contact) |
| Accretech/TSK: Surfcom Series (*.rs3, *.s3d) |
| Ametek: see Taylor Hobson below |
| Digital Metrology: Omnisurf software (*.sig) |
| Hommel-Etamic/Hommelwerke: Wavespeed, Turbo Profil software, T8000, NanoSwing, HommelMap (*.pip, *.top, *.hwp, *.hwh, *.xml) |
| KLA-Tencor: P-16+, P-Series, Alpha-Step IQ, Alpha-Step 500, Nanopics, Apex (*.3dd, *.dat, *.rwb, *.rwt, *.map, *.amb, *.xml, *.wli) |
| Mahr: Perthometer Concept (*.pcd, *.prf) |
| Mitaka Kohki: NH series, MitakaMap (*.am2, *.am3) |
| Mitutoyo: SV-Series, CS-Series (*.udf, *.sja, *.rcb, *.pra) |
| NanoFocus: LaserScan, µScan, µSoft (*.oms, *.nms, *.sur) |
| Nikon: Nexiv VMR (*.csv, *.asc) |
| Optimet: ConoScan (*.job) |
| Scantron: ProScan (*.prn) |
| Somicronic/Hommel: SurfaScan (*.pro, *.mes) |
| Taylor Hobson: TalySurf CLI, Form TalySurf Series, Ultra software, TalyMap, TalyProfile, TalyScan, Surtronic, TalyStep, Nanostep, PGI Novus (*.map, *.mod, *.prf, *.pro, *.sur, *.str, *.sth) |
| UBM: MicroFocus (*.ub2, *.ub3, *.ua2, *.ua3) |
| Confocal, Interference and Focus variation Microscopes |
| 4D Technology (*.h5) |
| ADE Phase Shift/KLA-Tencor: MicroXAM (*.map, *.mat) |
| Alicona: InfiniteFocus, MeX (*.al3d, *.alrl3d) |
| Helicon: Focus variation files (*.h3d) |
| Hirox: Digital Microscopes (*.csv, *.tdr) |
| Keyence: Digital Microscopes (*.map, *vk3, *vk4) |
| Lasertec: Optelics series (*.lms) |
| Leica: DCM 3D, DVM (*.xml, *.jpg, *.tif) |
| Lyncée-Tec: (*.dhm, *.bin) |
| Nikon: Eclipse C1, Nexiv confocal and VMZ, BW-H (*.ics, *.raw, *.sdf) |
| Olympus: LEXT (*.ols, *.lext) |
| Sensofar: APX format (*.apx) |
| Sensofar: PLµ series (*.plu) |
| Siemens: SIScan MC64 Topographer (*.sip) |
| Wyko: NT series (Bruker) (*.opd) |
| Zeiss MicroImaging: LSM (*.lsm) |
| Zemetrics: ZeGage (*.zmp) |
| Zeta Instruments (*.zmg) |
| Zygo: NewView series (*.dat, *.datx) |
| Scanning Probe Microscopes |
| RIBM: MS-NEX (*.asd) |
| Topometrix (*.tfr, *.zfr) |
| Generic and Additive Manufacturing formats |
| ISO 5436-2: Softgauge Standard (*.smd) |
| Open GPS (X3P): Open GPS XML format (ISO 25178-72) (*.x3p) |
| Other Instruments and formats |
| 3D Shape: µKorad 3D (*.ki) |
| Visuol Technologies/Techlab: Ondulo (*.res) |
Systemanforderungen
- Operating systems: Windows 10, 64 bits
- Recommended processor:
- standard use: multi-core processor
- intensive use*: multiple multi-core processors
- Disk: Minimum: 1 Gb of hard drive free space
- RAM:
- Minimum: 4GB
- Recommended: 8GB
- Recommended for intensive use*: 32GB
- Graphics:
- Minimum: OpenGL 2.0 or Direct X 9.0c support
- Recommended: Dedicated GPU 1 Gb
- Screen resolution:
- Minimum: 1280×768
- Recommended: Full HD
- Intensive use is considered:
- 3D SEM reconstruction with images bigger than 8 Megapixels
- Surface data files bigger than 8000×8000 points
- Large series of images/surfaces
- Can not install on a network computer
Bestellinformationen
Gerne können Sie bei uns zusätzliche Informationen oder ein Angebot anfordern.
| Produktcode | Produkt | Format |
| 978EALDB05871 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Basic Package | Herunterladen |
| 978EALDB06151 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition | Herunterladen |
| 978EALDB06342 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis with Particle Analysis Add-On (Bundle) | Herunterladen |
| 978EALDB06359 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis with SPM Add-On (Bundle) | Herunterladen |
| 978EALDB06366 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis with SEM Add-On (Bundle) | Herunterladen |
| 978EALDB06373 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis with Profiler Extension Add-On (Bundle) | Herunterladen |
| 978EALDB06168 | Particle Analysis Add-On | Herunterladen |
| 978EALDB06175 | SPM Add-On | Herunterladen |
| 978EALDB06182 | SEM Add-On | Herunterladen |
| 978EALDB06199 | Profiler Extension Add-On | Herunterladen |
Auch Wartungspläne sind verfügbar, um sicherzustellen, dass Sie mit aktueller Software stets auf dem neuesten Stand sind.