Wiley Surface-to-Spectral Analysis

見積り依頼

概要

顕微鏡のための完全な相関および分光分析ソフトウェアソリューション

1つのワークフローで顕微鏡からスペクトル分析まで対応

新たなWiley Surface-to-Spectral Analysisでは、各種顕微鏡技術で得られた画像やデータを処理、結合、解析するための包括的で強力なソリューションを提供します。研究室をより効率的にするために設計され、1つのインターフェイスですべてを以下のすべてを行うことができます。

  • スペクトル処理と解析
  • スペクトルマップと画像処理
  • 相関分析
  • 2D組成データの3D可視化

ユーザーは、スペクトルをWileyのKnowItAllソフトウェア*に送信してスペクトルライブラリで検索し、詳細な調査を行うことで、分析をさらに一歩進めることができます。

効率的な分析のための包括的な統合ツール

ベンダーニュートラルな柔軟なテクノロジーにより、統合が簡単

1つのワークフローで重要な知見を迅速に取得

Comprehensive Compound Coverage.

 

表面画像を徹底的に処理・分析できるように設計された強力なツールセット

。

Trusted Data from a Trusted Source.

 

複数のファイル形式と装置形式をサポートしているため、装置や顕微鏡を変更しても、ワークフローはそのまま利用可能。

Supports Multiple MS Instruments & Vendor Formats.

 

顕微鏡からスペクトル分析まで、1つのワークフローで迅速に結論を導き出します。

以下の技術に対応。

  • ラマン
  • TERS
  • IR
  • ナノIR
  • 蛍光
  • フォトルミネセンス
  • カソードルミネッセンス
  • EDX/EDS、XPS
  • SEM、SPM、粒子解析、プロフィロメトリー用アドオン付き

対応している形式の一覧は、互換性タブをご覧ください。

 

*KnowItAllソフトウェアとライブラリのライセンスが必要です。

詳細情報

以下は、各パッケージに含まれる全機能の詳細です。

Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Basic Package

主な機能

⇒スペクトル処理と解析

  • スペクトル系列とハイパースペクトル画像の可視化と解析
  • ユーザーが選択したスペクトル帯からスペクトルマップを作成
  • パラメータマップの生成
  • 多変量解析を適用して、重要なスペクトルとその分布を確認
  • 処理方法：ベースライン補正、フィルタリング、ピークフィッティング
  • ワンクリックでスペクトルをKnowItAll ID Expert*に送信し、ラマン、IR（FTIR、ATR、NIR）、UV-Visを含むデータベース検索が可能

*KnowItAllソフトウェアとライブラリのライセンスが必要です。

⇒ スペクトルマップと画像処理

  • ラマン、カソードルミネッセンス、フォトルミネッセンス、蛍光、EDX/EDS（エネルギー分散型X線分光法）、EELS（電子エネルギー損失分光法）のスペクトルマップを処理
  • スペクトルマップの処理方法：レイヤーの混色、画像ノイズの調整、レイヤー間の透明度の調整など
  • 画像の処理方法：視覚的な補正や処理、スムージング、アーチファクトの除去など

⇒ 相関分析

  • 1台の装置または複数の装置（ラマン、EDS/EDX、カソードルミネッセンス、蛍光など）からの画像とスペクトルマップを関連付ける
  • 異なる情報源からの情報を1つの多面的なデータセットに関連付ける

Figure: Correlation of 2D microscopy images into a 3D visualization.

⇒ 2D組成データの3D可視化

  • 顕微鏡画像やトポグラフィーデータを関連付けることで、2D化学マップの3D可視化を実施

アドオン：製品の拡張と顕微鏡の追加に対応

以下のアドオンにより、代替の顕微鏡のサポートが可能。

⇒ SEMアドオン

走査型電子顕微鏡（SEM）画像に対応。

    • 特徴のグループカラー化
    • 画像の補正と処理
    • 正確な高さと表面粗さの計算
    • 画像から3Dレンダリングを生成
    • DX/EDSデータを画像に関連付け

Figure: SEM colorization of particles using SEM add-on functionality

⇒ SPMアドオン

SPMは、走査型プローブ顕微鏡（STM、AFMなど）のファイル形式とマルチチャンネルデータに対応。

    • 高度な処理（ラインごとの平準化、空間フィルタ、表面分割、チップデコンボリューション、ライン補正、マルチプレーン平準化）
    • 数学関数演算子

Figure: Step height analysis using SPM add-on

⇒ 粒子解析アドオン

粒子解析では、構造化された表面の粒子、細孔、粒子、島などを解析するための包括的なツールセットが利用できます。

    • 異なるセグメンテーション原理に基づく特徴の検出
    • 形状、高さ、サイズに基づいて粒子をグループ化
    • 球冠の計算
    • カラー化
    • 分類を保存して再利用または他の人と共有
    • マスクを適用して表面を分割

Figure: Particle Analysis add-on

⇒ プロファイル拡張アドオン*

プロフィロメトリーに対応の以下のサポートを追加

    • 粗さと表面粗さの計算
    • データ補正（外れ値、欠損値、ノイズ）
    • 表面形状の解析
    • 複数の点群（異なる角度から測定）を1つの点群に統合

*Wiley Surface-to-Spectral Analysis Enhanced Editionのアドオンでのみご利用いただけます（詳細は以下を参照）

Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition

Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Editionのプレミアムパッケージでもご利用いただけます。

Basic Packageの機能に加え、以下のアドオンが含まれています。

  • 粒子解析およびSPMアドオン（詳細は上記を参照）
  • ケミカルキューブアドオン：
    組成データのマルチチャンネルキューブの完全な視覚化と解析：

    • フル3Dで材料のトモグラフィーと化学分析を関連付け
    • 3Dキューブの可視化およびアニメーションの広範な設定へのアクセス
    • スライスをカラー画像として抽出
    • 粒子と粒の統計データを作成

      Figure: Generated 3D multi-channel cube

 

パッケージの比較

 Basic PackageEnhanced Edition
各種技術に対応ラマン、TERS、IR、ナノIR、蛍光、フォトルミネッセンス、カソードルミネッセンス、EDX/EDS、XRFXX
ハイパースペクトル画像への対応ラマン、IR、UV-VisXX
SPMフォース顕微鏡（AFM、STM）アドオンX
粒子解析粒子形状を含む画像用のツールキットアドオンX
ケミカルキューブ2Dデータから3Dマルチチャンネルキューブの生成利用不可X
SEMSEMアドオンアドオン
プロファイラ拡張プロフィロメトリー利用不可アドオン
KnowItAllソフトウェア＆ライブラリ注意：本ワークフローで現在対応しているKnowItAllの関連スペクトルデータベース：IR、ラマン、UV-Visアドオンアドオン

互換性

現在ご利用のワークフローにシームレスに統合できる幅広いファイル形式に対応

The Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Basic Package supports the following file formats.

Spectroscopy
Attolight: Cathodoluminescence hypercubes
Anasys Instruments: NanoIR (*.axd, *.axz)
Bruker: Spectra and Hypercubes (*.0)
CS Instruments (*.nao)
Delmic: HDF5 Hypercubes (*.h5)
Edax: SPD Hypercubes (*.spd)
Flexible Image Transport System: Photon Etc (*.fits)
Gatan: Digital Micrograph 3 and 4 (*.dm3, *.dm4)
Harris Geospatial: ENVI software files (*.hdr)
Horiba: LabSpec 6 software files (*.h5, *.hdf5)
IGOR Wavemetrix: IBW (*.ibw)
Leica: Image file (*.lif, *.xlef, *.xlif, *.xllf, *.xlcf)
NT-MDT: Raman Hypercubes (*.mdt)
Oxford Instruments (Witec): H5OIWT (*.ardf, *.h5, *.hdf5, *.h5ebsd, *.h5oina, *.h5oiwt)
Photothermal (CytoSpec): ASCII file for mIRage (*.hvi)
Specs: 3DS Hypercubes (*.3ds)
Thermo Fisher: Advantage (*.vgd)
Thermo Fisher: Galactic (*.spc)
Thermo Fisher: OMNICxi MAPX file (*.mapx)
Tokyo Instruments (*.smd, *.s1d)
Scanning Electron Microscopes
Medical Research Council, UK: MRC (*.mrc, *.map)
Zeiss: Evo, Sigma, Merlin (*.sem3d, *.czi, *.zvi)
Generic & Other Manufacturing formats
Generic text file (ASCII, Unicode): 1D, 2D, 3D support. Note: Upon opening, a dialog will appear to specify how the data in the file is organized (*.txt, *.asc, *.dat)
Generic CSV format (*.csv)
Mountains: profiles and surfaces (*.pro, *.sur)
OBJ format(*.obj)
Omicron: SCALA (*.par)
Omicron: Matrix (*.mtrx, *_mtrix)
Polygon File format (*.ply)
STL/Triangulated surfaces (Stereo Lithography Format): An STL studiable can be imported as a shell or as a surface (*.stl)
Universal data file (SDF) (*.sdf)
Image formats
Windows Bitmap image (*.bmp)
EMF image (*.emf)
GIF image (*.gif)
JPEG image (*.jpg, *.jpeg)
PNG image (*.png)
TIFF image (*.tif, *.tiff)
TIFF surface (*.tif, *.tiff)
WMF image (*.wmf)

Support for the file formats listed below is included for SPM add-on, when paired to the main configuration of Wiley Surface-to-Spectral Analysis.

2D/3D Profilometers (contact and non-contact)
Digital Surf (*.pro, *.sur, *.spro, *.ssur, *.disc)
Confocal, Interference and Focus variation Microscopes
NanoSystem: NanoView WLI (*.spm)
Scanning Probe Microscopes
AFMWorkshop (*.csv, *.wsf)
Agilent Technologies/Keysight: All AFMs, PicoMap (*.stp, *.mi, *.ivs)
Anfatec Instruments AG (*.txt)
Attocube (*.bcrf, *.bcr)
Anasys Instruments: NanoIR, AFM, SNOM (*.axd, *.axz)
APE Research (*.dat)
CSM Instruments/Anton Paar: NanoIndenter (*.sis)
Gwyddion: GSF Format (simple Fields), GWY format, DUMP format (*.gsf, *.gwy, *.dump)
Hitachi: Finetech AFM (*.afm, *.afp)
Image Metrology: BCR-STM format (*.bcr)
JPK: surfaces (*.jpk, *.jpk-qi-image, *.force)
JPK: force surves (*.jpk-force, *.jpk-force-map, *.jpk-qi-data)
Nanonics: MultiView (*.nan)
Nanonis: DAT (*.dat, *.sxm)
Nanoscan: PPMS-AFM (*.xml)
Nanosurf: Nanite, EasyScan, Nanosurf Report (*.ezd, *.nid)
NT-MDT: NTegra, Solver (*.mdt)
Omicron (*.flat)
Oxford Instruments (*.hdf5, *.ardf, *.h5ebsde, *.h5oina)
Park Systems/PSIA: XE series, PS-PTT (*.tif, *.ps-ppt)
Quesant/Ambios: Q-Scope (*.afm, *.txt)
RHK (*.sm3, *.sm4)
SII Nanotechnology: Nanopics, SPA-Series (*.xqt)

Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition supports the file formats listed above for the main product configuration, plus these additional formats.

Spectroscopy
Igor Binary Wave (*.ibw)
Specs: 3DS Hypercubes (*.3ds)
2D/3D Profilometers (contact and non-contact)
Digital Surf (*.pro, *.sur, *.spro, *.ssur, *.disc)
Confocal, Interference and Focus variation Microscopes
NanoSystem: NanoView WLI (*.spm)
Scanning Probe Microscopes
AFMWorkshop (*.csv, *.wsf)
Agilent Technologies/Keysight: All AFMs, PicoMap (*.stp, *.mi, *.ivs)
Anfatec Instruments AG (*.txt)
Attocube (*.bcrf, *.bcr)
Anasys Instruments: NanoIR, AFM, SNOM (*.axd, *.axz)
APE Research (*.dat)
CSM Instruments/Anton Paar: NanoIndenter (*.sis)
Gwyddion: GSF Format (simple Fields), GWY format, DUMP format (*.gsf, *.gwy, *.dump)
Hitachi: Finetech AFM (*.afm, *.afp)
Image Metrology: BCR-STM format (*.bcr)
JPK: surfaces (*.jpk, *.jpk-qi-image, *.force)
JPK: force surves (*.jpk-force, *.jpk-force-map, *.jpk-qi-data)
Nanonics: MultiView (*.nan)
Nanonis: DAT (*.dat, *.sxm)
Nanoscan: PPMS-AFM (*.xml)
Nanosurf: Nanite, EasyScan, Nanosurf Report (*.ezd, *.nid)
NT-MDT: NTegra, Solver (*.mdt)
Omicron (*.flat)
Oxford Instruments (*.hdf5, *.ardf, *.h5ebsde, *.h5oina)
Park Systems/PSIA: XE series, PS-PTT (*.tif, *.ps-ppt)
Quesant/Ambios: Q-Scope (*.afm, *.txt)
RHK (*.sm3, *.sm4)
SII Nanotechnology: Nanopics, SPA-Series (*.xqt)

Support for the file formats listed below is included for Profiler Extension add-on, when paired to the Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition.

2D/3D Profilometers (contact and non-contact)
Accretech/TSK: Surfcom Series (*.rs3, *.s3d)
Ametek: see Taylor Hobson below
Digital Metrology: Omnisurf software (*.sig)
Hommel-Etamic/Hommelwerke: Wavespeed, Turbo Profil software, T8000, NanoSwing, HommelMap (*.pip, *.top, *.hwp, *.hwh, *.xml)
KLA-Tencor: P-16+, P-Series, Alpha-Step IQ, Alpha-Step 500, Nanopics, Apex (*.3dd, *.dat, *.rwb, *.rwt, *.map, *.amb, *.xml, *.wli)
Mahr: Perthometer Concept (*.pcd, *.prf)
Mitaka Kohki: NH series, MitakaMap (*.am2, *.am3)
Mitutoyo: SV-Series, CS-Series (*.udf, *.sja, *.rcb, *.pra)
NanoFocus: LaserScan, µScan, µSoft (*.oms, *.nms, *.sur)
Nikon: Nexiv VMR (*.csv, *.asc)
Optimet: ConoScan (*.job)
Scantron: ProScan (*.prn)
Somicronic/Hommel: SurfaScan (*.pro, *.mes)
Taylor Hobson: TalySurf CLI, Form TalySurf Series, Ultra software, TalyMap, TalyProfile, TalyScan, Surtronic, TalyStep, Nanostep, PGI Novus (*.map, *.mod, *.prf, *.pro, *.sur, *.str, *.sth)
UBM: MicroFocus (*.ub2, *.ub3, *.ua2, *.ua3)
Confocal, Interference and Focus variation Microscopes
4D Technology (*.h5)
ADE Phase Shift/KLA-Tencor: MicroXAM (*.map, *.mat)
Alicona: InfiniteFocus, MeX (*.al3d, *.alrl3d)
Helicon: Focus variation files (*.h3d)
Hirox: Digital Microscopes (*.csv, *.tdr)
Keyence: Digital Microscopes (*.map, *vk3, *vk4)
Lasertec: Optelics series (*.lms)
Leica: DCM 3D, DVM (*.xml, *.jpg, *.tif)
Lyncée-Tec: (*.dhm, *.bin)
Nikon: Eclipse C1, Nexiv confocal and VMZ, BW-H (*.ics, *.raw, *.sdf)
Olympus: LEXT (*.ols, *.lext)
Sensofar: APX format (*.apx)
Sensofar: PLµ series (*.plu)
Siemens: SIScan MC64 Topographer (*.sip)
Wyko: NT series (Bruker) (*.opd)
Zeiss MicroImaging: LSM (*.lsm)
Zemetrics: ZeGage (*.zmp)
Zeta Instruments (*.zmg)
Zygo: NewView series (*.dat, *.datx)
Scanning Probe Microscopes
RIBM: MS-NEX (*.asd)
Topometrix (*.tfr, *.zfr)
Generic and Additive Manufacturing formats
ISO 5436-2: Softgauge Standard (*.smd)
Open GPS (X3P): Open GPS XML format (ISO 25178-72) (*.x3p)
Other Instruments and formats
3D Shape: µKorad 3D (*.ki)
Visuol Technologies/Techlab: Ondulo (*.res)

動作環境

  • Operating systems: Windows 10, 64 bits
  • Recommended processor: 
    • standard use: multi-core processor
    • intensive use*: multiple multi-core processors
  • Disk: Minimum: 1 Gb of hard drive free space
  • RAM:
    • Minimum: 4GB
    • Recommended: 8GB
    • Recommended for intensive use*: 32GB
  • Graphics:
    • Minimum: OpenGL 2.0 or Direct X 9.0c support
    • Recommended: Dedicated GPU 1 Gb
  • Screen resolution:
    • Minimum: 1280×768
    • Recommended: Full HD
  • Intensive use is considered:
    • 3D SEM reconstruction with images bigger than 8 Megapixels
    • Surface data files bigger than 8000×8000 points 
    • Large series of images/surfaces
  • Can not install on a network computer

注文情報

詳細な情報やお見積りが必要な場合は、直接お問い合わせください。

製品コード製品入手方法
978EALDB05871Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Basic Packageダウンロード
978EALDB06151​Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Editionダウンロード
978EALDB06342Wiley Surface-to-Spectral Analysis with Particle Analysis Add-On (Bundle)ダウンロード
978EALDB06359Wiley Surface-to-Spectral Analysis with SPM Add-On (Bundle)ダウンロード
978EALDB06366Wiley Surface-to-Spectral Analysis with SEM Add-On (Bundle)ダウンロード
978EALDB06373Wiley Surface-to-Spectral Analysis with Profiler Extension Add-On (Bundle)ダウンロード
978EALDB06168​Particle Analysis Add-On​ダウンロード
978EALDB06175SPM Add-Onダウンロード
978EALDB06182SEM Add-Onダウンロード
978EALDB06199Profiler Extension Add-Onダウンロード

最新のソフトウェアにアップデートするためのメンテナンスプランもご用意しています。