Wiley Surface-to-Spectral Analysis

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Présentation

La solution logicielle complète d'analyse de corrélation & spectroscopie pour la microscopie

Passer de la microscopie à l'analyse spectrale en un seul flux de travail

La nouvelle analyse surface-spectre Wiley fournit une solution complète et puissante pour traiter, combiner et analyser des images et des données provenant de diverses techniques microscopiques. Conçue pour rendre votre laboratoire plus efficace, vous pouvez tout faire à partir d'une seule interface :

  • Traitement et analyse spectrale
  • Carte spectrale et traitement d'image
  • Analyse corrélative
  • Visualisation en 3D de données sur la composition en 2D

Les utilisateurs peuvent même aller plus loin dans leur analyse en envoyant les spectres au logiciel KnowItAll* de Wiley pour effectuer des recherches dans des bibliothèques spectrales en vue d'affiner la recherche.

Des outils complets et intégrés pour une analyse efficace

Technologie flexible et indépendante des fournisseurs pour une intégration facile

Obtenez plus rapidement des informations clés grâce à un flux de travail unique

Comprehensive Compound Coverage.

 

Des outils puissants conçus pour vous permettre de traiter et d'analyser minutieusement vos images de surface.

Trusted Data from a Trusted Source.

 

Prend en charge de nombreux formats de fichiers et d'instruments, même si vous changez d'instrument ou de microscope, votre flux de travail reste intact.

Supports Multiple MS Instruments & Vendor Formats.

 

Passez directement de la microscopie à l'analyse spectrale —le tout dans le cadre d'un flux de travail unique afin de parvenir plus rapidement à des conclusions. 

Les techniques prises en charge sont les suivantes :

  • Raman
  • TERS
  • IR
  • nanoIR
  • fluorescence
  • photoluminescence
  • cathodoluminescence
  • EDX/EDS et XPS
  • Avec des modules complémentaires pour le SEM, le SPM, l'analyse de particules, la profilométrie

Voir l'onglet compatibilité pour la liste des formats pris en charge. 

 

* Nécessite une licence pour le logiciel et les bibliothèques KnowItAll.

Informations

Vous trouverez ci-dessous plus de détails sur toutes les fonctionnalités incluses dans chaque forfait.

Analyse surface-spectre Wiley – Forfait basique

Caractéristiques principales

⇒ Traitement et analyse spectrale

  • Visualisez et analysez des séries spectrales et des images hyperspectrales
  • Créez de cartes spectrales à partir de bandes spectrales sélectionnées par l’utilisateur
  • Générez des cartes de paramètres
  • Appliquez l’analyse multivariée pour trouver les spectres significatifs et leur distribution
  • Les méthodes de traitement comprennent : les corrections de base, le filtrage, l’ajustement des pics
  • Envoyez en seul clic les spectres dans KnowItAll IDExpert* pour une recherche dans la base de données, y compris Raman, IR (FTIR, ATR, NIR) et UV-Vis.

* Nécessite une licence pour le logiciel et les bibliothèques KnowItAll.

⇒ Carte spectrale et traitement d’image

  • Traitez les cartes spectrales pour le Raman, la cathodoluminescence, la photoluminescence, la fluorescence, l’EDX/EDS (spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie) etl’EELS (spectroscopie de perte d’énergie des électrons)
  • Les méthodes de traitement des cartes spectrales comprennent : le mélange des couleurs des couches, l’ajustement du bruit de l’image, l’ajustement de la transparence entre les couches
  • Les méthodes de traitement des images comprennent : l’application de corrections visuelles et d’améliorations, le lissage, la suppression des artefacts

⇒ Analyse corrélative

  • Associez des images et des cartes spectrales provenant d’un seul instrument ou de plusieurs instruments (Raman, EDS/EDX, cathodoluminescence, fluorescence, etc.)
  • Regroupez des informations provenant de différentes sources en une seule base de données polyvalente.

Figure: Correlation of 2D microscopy images into a 3D visualization.

⇒ Visualisation en 3D de données sur la composition en 2D

  • Créez des visualisations 3D de cartes chimiques 2D en associant des images de microscopie ou de topographie

Modules complémentaires : Améliorations du produit et prise en charge de microscopes supplémentaires

La prise en charge d’autres microscopes est possible avec les modules suivants. Voir 

⇒ Module SEM

Fournit un support pour les images de microscopie électronique à balayage (SEM) :

    • Colorisation par groupe d’éléments
    • Corrections et améliorations de l’image
    • Calcul précis de la hauteur et de la rugosité de la surface
    • Générez des rendus 3D à partir d’images
    • Associez les données EDX/EDS aux images

    Figure: SEM colorization of particles using SEM add-on functionality

    ⇒ Module SPM

    SPM permet de prendre en charge les formats de fichiers de microscopie à sonde à balayage (STM, AFM, etc.) et les données multicanaux :

      • Traitement avancé (nivellement ligne par ligne, filtre spatial, division de la surface, déconvolution de la pointe, correction de la ligne, nivellement multiplan)
      • Opérateurs de fonctions mathématiques

    Figure: Step height analysis using SPM add-on

    ⇒ Module Analyse des particules

    L’analyse des particules fournit un ensemble complet d’outils pour l’analyse des particules, des pores, des grains, des îlots, etc. sur des surfaces structurées :

      • Détection de caractéristiques basée sur différents principes de segmentation
      • Regroupez les particules en fonction de leur forme, de leur hauteur ou de leur taille
      • Calculez les calottes sphériques
      • Colorisation

    Figure: Particle Analysis add-on

    ⇒ Module Extension du profil*

    Ajout de la prise en charge de la profilométrie, notamment :

      • Calculez la rugosité et la texture de la surface
      • Correction des données (valeurs aberrantes, défauts et bruit)
      • Analysez la géométrie des surfaces

    *Uniquement disponible en complément de l’édition améliorée de l’analyse surface-spectre Wiley (plus d’informations ci-dessous)

    Analyse surface-spectre Wiley – Édition améliorée

    Un forfait premium pour l’édition Wiley Analyse surface-spectre est également disponible.

    Il comprend les fonctionnalités de l’offre de base ainsi que les options suivantes :

    • Modules Analyse des particules et SPM (voir détails ci-dessus)
    • Module Cubes chimiques :
      Visualisation et analyse complètes des cubes multicanaux pour les données sur la composition :

      • Associez la tomographie et l’analyse chimique des matériaux en 3D
      • Accédez à un large éventail de paramètres de visualisation et d’animation pour le cube 3D
      • Extrayez les tranches sous forme d’images couleur
      • Générez des statistiques sur les particules et les grains

        Figure: Generated 3D multi-channel cube

     

Composition du forfait

 Forfait basiqueÉdition améliorée
Prend en charge diverses techniquesRaman, TERS, IR, nanoIR, fluorescence, photoluminescence, cathodoluminescence, EDX/EDS, XRFXX
Prise en charge des images hyperspectralesRaman, IR, UV-VisXX
SPMMicroscopie à force (AFM, STM)Module complémentaireX
Analyse des particulesBoîte à outils pour les images contenant des formes de particulesModule complémentaireX
Cubes chimiquesGénération de cubes multicanaux 3D à partir de données 2DNon disponibleX
SEMSEMModule complémentaireModule complémentaire
Extension du profileurProfilométrieNon disponibleModule complémentaire
Logiciel et bibliothèques KnowItAllREMARQUE : Bases de données spectrales KnowItAll applicables actuellement prises en charge dans ce flux de travail : IR, Raman, UV-VisModule complémentaireModule complémentaire

Compatibilité

Prend en charge une large gamme de formats de fichiers pour une intégration facile à votre flux de travail actuel

The Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Basic Package supports the following file formats.

Spectroscopy
Attolight: Cathodoluminescence hypercubes
Anasys Instruments: NanoIR (*.axd, *.axz)
Bruker: Spectra and Hypercubes (*.0)
CS Instruments (*.nao)
Delmic: HDF5 Hypercubes (*.h5)
Edax: SPD Hypercubes (*.spd)
Flexible Image Transport System: Photon Etc (*.fits)
Gatan: Digital Micrograph 3 and 4 (*.dm3, *.dm4)
Harris Geospatial: ENVI software files (*.hdr)
Horiba: LabSpec 6 software files (*.h5, *.hdf5)
IGOR Wavemetrix: IBW (*.ibw)
Leica: Image file (*.lif, *.xlef, *.xlif, *.xllf, *.xlcf)
NT-MDT: Raman Hypercubes (*.mdt)
Oxford Instruments (Witec): H5OIWT (*.ardf, *.h5, *.hdf5, *.h5ebsd, *.h5oina, *.h5oiwt)
Photothermal (CytoSpec): ASCII file for mIRage (*.hvi)
Specs: 3DS Hypercubes (*.3ds)
Thermo Fisher: Advantage (*.vgd)
Thermo Fisher: Galactic (*.spc)
Thermo Fisher: OMNICxi MAPX file (*.mapx)
Tokyo Instruments (*.smd, *.s1d)
Scanning Electron Microscopes
Medical Research Council, UK: MRC (*.mrc, *.map)
Zeiss: Evo, Sigma, Merlin (*.sem3d, *.czi, *.zvi)
Generic & Other Manufacturing formats
Generic text file (ASCII, Unicode): 1D, 2D, 3D support. Note: Upon opening, a dialog will appear to specify how the data in the file is organized (*.txt, *.asc, *.dat)
Generic CSV format (*.csv)
Mountains: profiles and surfaces (*.pro, *.sur)
OBJ format(*.obj)
Omicron: SCALA (*.par)
Omicron: Matrix (*.mtrx, *_mtrix)
Polygon File format (*.ply)
STL/Triangulated surfaces (Stereo Lithography Format): An STL studiable can be imported as a shell or as a surface (*.stl)
Universal data file (SDF) (*.sdf)
Image formats
Windows Bitmap image (*.bmp)
EMF image (*.emf)
GIF image (*.gif)
JPEG image (*.jpg, *.jpeg)
PNG image (*.png)
TIFF image (*.tif, *.tiff)
TIFF surface (*.tif, *.tiff)
WMF image (*.wmf)

Support for the file formats listed below is included for SPM add-on, when paired to the main configuration of Wiley Surface-to-Spectral Analysis.

2D/3D Profilometers (contact and non-contact)
Digital Surf (*.pro, *.sur, *.spro, *.ssur, *.disc)
Confocal, Interference and Focus variation Microscopes
NanoSystem: NanoView WLI (*.spm)
Scanning Probe Microscopes
AFMWorkshop (*.csv, *.wsf)
Agilent Technologies/Keysight: All AFMs, PicoMap (*.stp, *.mi, *.ivs)
Anfatec Instruments AG (*.txt)
Attocube (*.bcrf, *.bcr)
Anasys Instruments: NanoIR, AFM, SNOM (*.axd, *.axz)
APE Research (*.dat)
CSM Instruments/Anton Paar: NanoIndenter (*.sis)
Gwyddion: GSF Format (simple Fields), GWY format, DUMP format (*.gsf, *.gwy, *.dump)
Hitachi: Finetech AFM (*.afm, *.afp)
Image Metrology: BCR-STM format (*.bcr)
JPK: surfaces (*.jpk, *.jpk-qi-image, *.force)
JPK: force surves (*.jpk-force, *.jpk-force-map, *.jpk-qi-data)
Nanonics: MultiView (*.nan)
Nanonis: DAT (*.dat, *.sxm)
Nanoscan: PPMS-AFM (*.xml)
Nanosurf: Nanite, EasyScan, Nanosurf Report (*.ezd, *.nid)
NT-MDT: NTegra, Solver (*.mdt)
Omicron (*.flat)
Oxford Instruments (*.hdf5, *.ardf, *.h5ebsde, *.h5oina)
Park Systems/PSIA: XE series, PS-PTT (*.tif, *.ps-ppt)
Quesant/Ambios: Q-Scope (*.afm, *.txt)
RHK (*.sm3, *.sm4)
SII Nanotechnology: Nanopics, SPA-Series (*.xqt)

Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition supports the file formats listed above for the main product configuration, plus these additional formats.

Spectroscopy
Igor Binary Wave (*.ibw)
Specs: 3DS Hypercubes (*.3ds)
2D/3D Profilometers (contact and non-contact)
Digital Surf (*.pro, *.sur, *.spro, *.ssur, *.disc)
Confocal, Interference and Focus variation Microscopes
NanoSystem: NanoView WLI (*.spm)
Scanning Probe Microscopes
AFMWorkshop (*.csv, *.wsf)
Agilent Technologies/Keysight: All AFMs, PicoMap (*.stp, *.mi, *.ivs)
Anfatec Instruments AG (*.txt)
Attocube (*.bcrf, *.bcr)
Anasys Instruments: NanoIR, AFM, SNOM (*.axd, *.axz)
APE Research (*.dat)
CSM Instruments/Anton Paar: NanoIndenter (*.sis)
Gwyddion: GSF Format (simple Fields), GWY format, DUMP format (*.gsf, *.gwy, *.dump)
Hitachi: Finetech AFM (*.afm, *.afp)
Image Metrology: BCR-STM format (*.bcr)
JPK: surfaces (*.jpk, *.jpk-qi-image, *.force)
JPK: force surves (*.jpk-force, *.jpk-force-map, *.jpk-qi-data)
Nanonics: MultiView (*.nan)
Nanonis: DAT (*.dat, *.sxm)
Nanoscan: PPMS-AFM (*.xml)
Nanosurf: Nanite, EasyScan, Nanosurf Report (*.ezd, *.nid)
NT-MDT: NTegra, Solver (*.mdt)
Omicron (*.flat)
Oxford Instruments (*.hdf5, *.ardf, *.h5ebsde, *.h5oina)
Park Systems/PSIA: XE series, PS-PTT (*.tif, *.ps-ppt)
Quesant/Ambios: Q-Scope (*.afm, *.txt)
RHK (*.sm3, *.sm4)
SII Nanotechnology: Nanopics, SPA-Series (*.xqt)

Support for the file formats listed below is included for Profiler Extension add-on, when paired to the Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition.

2D/3D Profilometers (contact and non-contact)
Accretech/TSK: Surfcom Series (*.rs3, *.s3d)
Ametek: see Taylor Hobson below
Digital Metrology: Omnisurf software (*.sig)
Hommel-Etamic/Hommelwerke: Wavespeed, Turbo Profil software, T8000, NanoSwing, HommelMap (*.pip, *.top, *.hwp, *.hwh, *.xml)
KLA-Tencor: P-16+, P-Series, Alpha-Step IQ, Alpha-Step 500, Nanopics, Apex (*.3dd, *.dat, *.rwb, *.rwt, *.map, *.amb, *.xml, *.wli)
Mahr: Perthometer Concept (*.pcd, *.prf)
Mitaka Kohki: NH series, MitakaMap (*.am2, *.am3)
Mitutoyo: SV-Series, CS-Series (*.udf, *.sja, *.rcb, *.pra)
NanoFocus: LaserScan, µScan, µSoft (*.oms, *.nms, *.sur)
Nikon: Nexiv VMR (*.csv, *.asc)
Optimet: ConoScan (*.job)
Scantron: ProScan (*.prn)
Somicronic/Hommel: SurfaScan (*.pro, *.mes)
Taylor Hobson: TalySurf CLI, Form TalySurf Series, Ultra software, TalyMap, TalyProfile, TalyScan, Surtronic, TalyStep, Nanostep, PGI Novus (*.map, *.mod, *.prf, *.pro, *.sur, *.str, *.sth)
UBM: MicroFocus (*.ub2, *.ub3, *.ua2, *.ua3)
Confocal, Interference and Focus variation Microscopes
4D Technology (*.h5)
ADE Phase Shift/KLA-Tencor: MicroXAM (*.map, *.mat)
Alicona: InfiniteFocus, MeX (*.al3d, *.alrl3d)
Helicon: Focus variation files (*.h3d)
Hirox: Digital Microscopes (*.csv, *.tdr)
Keyence: Digital Microscopes (*.map, *vk3, *vk4)
Lasertec: Optelics series (*.lms)
Leica: DCM 3D, DVM (*.xml, *.jpg, *.tif)
Lyncée-Tec: (*.dhm, *.bin)
Nikon: Eclipse C1, Nexiv confocal and VMZ, BW-H (*.ics, *.raw, *.sdf)
Olympus: LEXT (*.ols, *.lext)
Sensofar: APX format (*.apx)
Sensofar: PLµ series (*.plu)
Siemens: SIScan MC64 Topographer (*.sip)
Wyko: NT series (Bruker) (*.opd)
Zeiss MicroImaging: LSM (*.lsm)
Zemetrics: ZeGage (*.zmp)
Zeta Instruments (*.zmg)
Zygo: NewView series (*.dat, *.datx)
Scanning Probe Microscopes
RIBM: MS-NEX (*.asd)
Topometrix (*.tfr, *.zfr)
Generic and Additive Manufacturing formats
ISO 5436-2: Softgauge Standard (*.smd)
Open GPS (X3P): Open GPS XML format (ISO 25178-72) (*.x3p)
Other Instruments and formats
3D Shape: µKorad 3D (*.ki)
Visuol Technologies/Techlab: Ondulo (*.res)

Configuration requise

  • Operating systems: Windows 10, 64 bits
  • Recommended processor: 
    • standard use: multi-core processor
    • intensive use*: multiple multi-core processors
  • Disk: Minimum: 1 Gb of hard drive free space
  • RAM:
    • Minimum: 4GB
    • Recommended: 8GB
    • Recommended for intensive use*: 32GB
  • Graphics:
    • Minimum: OpenGL 2.0 or Direct X 9.0c support
    • Recommended: Dedicated GPU 1 Gb
  • Screen resolution:
    • Minimum: 1280×768
    • Recommended: Full HD
  • Intensive use is considered:
    • 3D SEM reconstruction with images bigger than 8 Megapixels
    • Surface data files bigger than 8000×8000 points 
    • Large series of images/surfaces
  • Can not install on a network computer

Informations de commande

Veuillez nous contacter directement si vous avez besoin d’informations supplémentaires ou d’un devis.

Code produitProduitFormat
978EALDB05871Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Basic PackageDownload
978EALDB06151​Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced EditionDownload
978EALDB06342Wiley Surface-to-Spectral Analysis with Particle Analysis Add-On (Bundle)Download
978EALDB06359Wiley Surface-to-Spectral Analysis with SPM Add-On (Bundle)Download
978EALDB06366Wiley Surface-to-Spectral Analysis with SEM Add-On (Bundle)Download
978EALDB06373Wiley Surface-to-Spectral Analysis with Profiler Extension Add-On (Bundle)Download
978EALDB06168​Particle Analysis Add-On​Download
978EALDB06175SPM Add-OnDownload
978EALDB06182SEM Add-OnDownload
978EALDB06199Profiler Extension Add-OnDownload

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