Présentation
La solution logicielle complète d'analyse de corrélation & spectroscopie pour la microscopie
Passer de la microscopie à l'analyse spectrale en un seul flux de travail
La nouvelle analyse surface-spectre Wiley fournit une solution complète et puissante pour traiter, combiner et analyser des images et des données provenant de diverses techniques microscopiques. Conçue pour rendre votre laboratoire plus efficace, vous pouvez tout faire à partir d'une seule interface :
- Traitement et analyse spectrale
- Carte spectrale et traitement d'image
- Analyse corrélative
- Visualisation en 3D de données sur la composition en 2D
Les utilisateurs peuvent même aller plus loin dans leur analyse en envoyant les spectres au logiciel KnowItAll* de Wiley pour effectuer des recherches dans des bibliothèques spectrales en vue d'affiner la recherche.
Des outils complets et intégrés pour une analyse efficace | Technologie flexible et indépendante des fournisseurs pour une intégration facile | Obtenez plus rapidement des informations clés grâce à un flux de travail unique |
Des outils puissants conçus pour vous permettre de traiter et d'analyser minutieusement vos images de surface. |
Prend en charge de nombreux formats de fichiers et d'instruments, même si vous changez d'instrument ou de microscope, votre flux de travail reste intact. |
Passez directement de la microscopie à l'analyse spectrale —le tout dans le cadre d'un flux de travail unique afin de parvenir plus rapidement à des conclusions. |
Les techniques prises en charge sont les suivantes :
- Raman
- TERS
- IR
- nanoIR
- fluorescence
- photoluminescence
- cathodoluminescence
- EDX/EDS et XPS
- Avec des modules complémentaires pour le SEM, le SPM, l'analyse de particules, la profilométrie
Voir l'onglet compatibilité pour la liste des formats pris en charge.
* Nécessite une licence pour le logiciel et les bibliothèques KnowItAll.
Informations
Vous trouverez ci-dessous plus de détails sur toutes les fonctionnalités incluses dans chaque forfait.
Analyse surface-spectre Wiley – Forfait basique
Caractéristiques principales
- Traitement et analyse spectrale
- Carte spectrale et traitement d’image
- Analyse corrélative
- Visualisation en 3D de données compositionnelles en 2D
- Améliorations de produits disponibles & support complémentaire pour les microscopes
⇒ Traitement et analyse spectrale
- Visualisez et analysez des séries spectrales et des images hyperspectrales
- Créez de cartes spectrales à partir de bandes spectrales sélectionnées par l’utilisateur
- Générez des cartes de paramètres
- Appliquez l’analyse multivariée pour trouver les spectres significatifs et leur distribution
- Les méthodes de traitement comprennent : les corrections de base, le filtrage, l’ajustement des pics
- Envoyez en seul clic les spectres dans KnowItAll IDExpert* pour une recherche dans la base de données, y compris Raman, IR (FTIR, ATR, NIR) et UV-Vis.
* Nécessite une licence pour le logiciel et les bibliothèques KnowItAll.
⇒ Carte spectrale et traitement d’image
- Traitez les cartes spectrales pour le Raman, la cathodoluminescence, la photoluminescence, la fluorescence, l’EDX/EDS (spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie) etl’EELS (spectroscopie de perte d’énergie des électrons)
- Les méthodes de traitement des cartes spectrales comprennent : le mélange des couleurs des couches, l’ajustement du bruit de l’image, l’ajustement de la transparence entre les couches
- Les méthodes de traitement des images comprennent : l’application de corrections visuelles et d’améliorations, le lissage, la suppression des artefacts
⇒ Analyse corrélative
- Associez des images et des cartes spectrales provenant d’un seul instrument ou de plusieurs instruments (Raman, EDS/EDX, cathodoluminescence, fluorescence, etc.)
- Regroupez des informations provenant de différentes sources en une seule base de données polyvalente.
⇒ Visualisation en 3D de données sur la composition en 2D
- Créez des visualisations 3D de cartes chimiques 2D en associant des images de microscopie ou de topographie
Modules complémentaires : Améliorations du produit et prise en charge de microscopes supplémentaires
La prise en charge d’autres microscopes est possible avec les modules suivants. Voir
⇒ Module SEM
Fournit un support pour les images de microscopie électronique à balayage (SEM) :
- Colorisation par groupe d’éléments
- Corrections et améliorations de l’image
- Calcul précis de la hauteur et de la rugosité de la surface
- Générez des rendus 3D à partir d’images
- Associez les données EDX/EDS aux images
⇒ Module SPM
SPM permet de prendre en charge les formats de fichiers de microscopie à sonde à balayage (STM, AFM, etc.) et les données multicanaux :
- Traitement avancé (nivellement ligne par ligne, filtre spatial, division de la surface, déconvolution de la pointe, correction de la ligne, nivellement multiplan)
- Opérateurs de fonctions mathématiques
⇒ Module Analyse des particules
L’analyse des particules fournit un ensemble complet d’outils pour l’analyse des particules, des pores, des grains, des îlots, etc. sur des surfaces structurées :
- Détection de caractéristiques basée sur différents principes de segmentation
- Regroupez les particules en fonction de leur forme, de leur hauteur ou de leur taille
- Calculez les calottes sphériques
- Colorisation
⇒ Module Extension du profil*
Ajout de la prise en charge de la profilométrie, notamment :
- Calculez la rugosité et la texture de la surface
- Correction des données (valeurs aberrantes, défauts et bruit)
- Analysez la géométrie des surfaces
*Uniquement disponible en complément de l’édition améliorée de l’analyse surface-spectre Wiley (plus d’informations ci-dessous)
Analyse surface-spectre Wiley – Édition améliorée
Un forfait premium pour l’édition Wiley Analyse surface-spectre est également disponible.
Il comprend les fonctionnalités de l’offre de base ainsi que les options suivantes :
- Modules Analyse des particules et SPM (voir détails ci-dessus)
- Module Cubes chimiques :
Visualisation et analyse complètes des cubes multicanaux pour les données sur la composition :- Associez la tomographie et l’analyse chimique des matériaux en 3D
- Accédez à un large éventail de paramètres de visualisation et d’animation pour le cube 3D
- Extrayez les tranches sous forme d’images couleur
- Générez des statistiques sur les particules et les grains
Composition du forfait
Forfait basique | Édition améliorée | ||
Prend en charge diverses techniques | Raman, TERS, IR, nanoIR, fluorescence, photoluminescence, cathodoluminescence, EDX/EDS, XRF | X | X |
Prise en charge des images hyperspectrales | Raman, IR, UV-Vis | X | X |
SPM | Microscopie à force (AFM, STM) | Module complémentaire | X |
Analyse des particules | Boîte à outils pour les images contenant des formes de particules | Module complémentaire | X |
Cubes chimiques | Génération de cubes multicanaux 3D à partir de données 2D | Non disponible | X |
SEM | SEM | Module complémentaire | Module complémentaire |
Extension du profileur | Profilométrie | Non disponible | Module complémentaire |
Logiciel et bibliothèques KnowItAll | REMARQUE : Bases de données spectrales KnowItAll applicables actuellement prises en charge dans ce flux de travail : IR, Raman, UV-Vis | Module complémentaire | Module complémentaire |
Compatibilité
Prend en charge une large gamme de formats de fichiers pour une intégration facile à votre flux de travail actuel
The Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Basic Package supports the following file formats.
Spectroscopy |
Attolight: Cathodoluminescence hypercubes |
Anasys Instruments: NanoIR (*.axd, *.axz) |
Bruker: Spectra and Hypercubes (*.0) |
CS Instruments (*.nao) |
Delmic: HDF5 Hypercubes (*.h5) |
Edax: SPD Hypercubes (*.spd) |
Flexible Image Transport System: Photon Etc (*.fits) |
Gatan: Digital Micrograph 3 and 4 (*.dm3, *.dm4) |
Harris Geospatial: ENVI software files (*.hdr) |
Horiba: LabSpec 6 software files (*.h5, *.hdf5) |
IGOR Wavemetrix: IBW (*.ibw) |
Leica: Image file (*.lif, *.xlef, *.xlif, *.xllf, *.xlcf) |
NT-MDT: Raman Hypercubes (*.mdt) |
Oxford Instruments (Witec): H5OIWT (*.ardf, *.h5, *.hdf5, *.h5ebsd, *.h5oina, *.h5oiwt) |
Photothermal (CytoSpec): ASCII file for mIRage (*.hvi) |
Specs: 3DS Hypercubes (*.3ds) |
Thermo Fisher: Advantage (*.vgd) |
Thermo Fisher: Galactic (*.spc) |
Thermo Fisher: OMNICxi MAPX file (*.mapx) |
Tokyo Instruments (*.smd, *.s1d) |
Scanning Electron Microscopes |
Medical Research Council, UK: MRC (*.mrc, *.map) |
Zeiss: Evo, Sigma, Merlin (*.sem3d, *.czi, *.zvi) |
Generic & Other Manufacturing formats |
Generic text file (ASCII, Unicode): 1D, 2D, 3D support. Note: Upon opening, a dialog will appear to specify how the data in the file is organized (*.txt, *.asc, *.dat) |
Generic CSV format (*.csv) |
Mountains: profiles and surfaces (*.pro, *.sur) |
OBJ format(*.obj) |
Omicron: SCALA (*.par) |
Omicron: Matrix (*.mtrx, *_mtrix) |
Polygon File format (*.ply) |
STL/Triangulated surfaces (Stereo Lithography Format): An STL studiable can be imported as a shell or as a surface (*.stl) |
Universal data file (SDF) (*.sdf) |
Image formats |
Windows Bitmap image (*.bmp) |
EMF image (*.emf) |
GIF image (*.gif) |
JPEG image (*.jpg, *.jpeg) |
PNG image (*.png) |
TIFF image (*.tif, *.tiff) |
TIFF surface (*.tif, *.tiff) |
WMF image (*.wmf) |
Support for the file formats listed below is included for SPM add-on, when paired to the main configuration of Wiley Surface-to-Spectral Analysis.
2D/3D Profilometers (contact and non-contact) |
Digital Surf (*.pro, *.sur, *.spro, *.ssur, *.disc) |
Confocal, Interference and Focus variation Microscopes |
NanoSystem: NanoView WLI (*.spm) |
Scanning Probe Microscopes |
AFMWorkshop (*.csv, *.wsf) |
Agilent Technologies/Keysight: All AFMs, PicoMap (*.stp, *.mi, *.ivs) |
Anfatec Instruments AG (*.txt) |
Attocube (*.bcrf, *.bcr) |
Anasys Instruments: NanoIR, AFM, SNOM (*.axd, *.axz) |
APE Research (*.dat) |
CSM Instruments/Anton Paar: NanoIndenter (*.sis) |
Gwyddion: GSF Format (simple Fields), GWY format, DUMP format (*.gsf, *.gwy, *.dump) |
Hitachi: Finetech AFM (*.afm, *.afp) |
Image Metrology: BCR-STM format (*.bcr) |
JPK: surfaces (*.jpk, *.jpk-qi-image, *.force) |
JPK: force surves (*.jpk-force, *.jpk-force-map, *.jpk-qi-data) |
Nanonics: MultiView (*.nan) |
Nanonis: DAT (*.dat, *.sxm) |
Nanoscan: PPMS-AFM (*.xml) |
Nanosurf: Nanite, EasyScan, Nanosurf Report (*.ezd, *.nid) |
NT-MDT: NTegra, Solver (*.mdt) |
Omicron (*.flat) |
Oxford Instruments (*.hdf5, *.ardf, *.h5ebsde, *.h5oina) |
Park Systems/PSIA: XE series, PS-PTT (*.tif, *.ps-ppt) |
Quesant/Ambios: Q-Scope (*.afm, *.txt) |
RHK (*.sm3, *.sm4) |
SII Nanotechnology: Nanopics, SPA-Series (*.xqt) |
Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition supports the file formats listed above for the main product configuration, plus these additional formats.
Spectroscopy |
Igor Binary Wave (*.ibw) |
Specs: 3DS Hypercubes (*.3ds) |
2D/3D Profilometers (contact and non-contact) |
Digital Surf (*.pro, *.sur, *.spro, *.ssur, *.disc) |
Confocal, Interference and Focus variation Microscopes |
NanoSystem: NanoView WLI (*.spm) |
Scanning Probe Microscopes |
AFMWorkshop (*.csv, *.wsf) |
Agilent Technologies/Keysight: All AFMs, PicoMap (*.stp, *.mi, *.ivs) |
Anfatec Instruments AG (*.txt) |
Attocube (*.bcrf, *.bcr) |
Anasys Instruments: NanoIR, AFM, SNOM (*.axd, *.axz) |
APE Research (*.dat) |
CSM Instruments/Anton Paar: NanoIndenter (*.sis) |
Gwyddion: GSF Format (simple Fields), GWY format, DUMP format (*.gsf, *.gwy, *.dump) |
Hitachi: Finetech AFM (*.afm, *.afp) |
Image Metrology: BCR-STM format (*.bcr) |
JPK: surfaces (*.jpk, *.jpk-qi-image, *.force) |
JPK: force surves (*.jpk-force, *.jpk-force-map, *.jpk-qi-data) |
Nanonics: MultiView (*.nan) |
Nanonis: DAT (*.dat, *.sxm) |
Nanoscan: PPMS-AFM (*.xml) |
Nanosurf: Nanite, EasyScan, Nanosurf Report (*.ezd, *.nid) |
NT-MDT: NTegra, Solver (*.mdt) |
Omicron (*.flat) |
Oxford Instruments (*.hdf5, *.ardf, *.h5ebsde, *.h5oina) |
Park Systems/PSIA: XE series, PS-PTT (*.tif, *.ps-ppt) |
Quesant/Ambios: Q-Scope (*.afm, *.txt) |
RHK (*.sm3, *.sm4) |
SII Nanotechnology: Nanopics, SPA-Series (*.xqt) |
Support for the file formats listed below is included for Profiler Extension add-on, when paired to the Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition.
2D/3D Profilometers (contact and non-contact) |
Accretech/TSK: Surfcom Series (*.rs3, *.s3d) |
Ametek: see Taylor Hobson below |
Digital Metrology: Omnisurf software (*.sig) |
Hommel-Etamic/Hommelwerke: Wavespeed, Turbo Profil software, T8000, NanoSwing, HommelMap (*.pip, *.top, *.hwp, *.hwh, *.xml) |
KLA-Tencor: P-16+, P-Series, Alpha-Step IQ, Alpha-Step 500, Nanopics, Apex (*.3dd, *.dat, *.rwb, *.rwt, *.map, *.amb, *.xml, *.wli) |
Mahr: Perthometer Concept (*.pcd, *.prf) |
Mitaka Kohki: NH series, MitakaMap (*.am2, *.am3) |
Mitutoyo: SV-Series, CS-Series (*.udf, *.sja, *.rcb, *.pra) |
NanoFocus: LaserScan, µScan, µSoft (*.oms, *.nms, *.sur) |
Nikon: Nexiv VMR (*.csv, *.asc) |
Optimet: ConoScan (*.job) |
Scantron: ProScan (*.prn) |
Somicronic/Hommel: SurfaScan (*.pro, *.mes) |
Taylor Hobson: TalySurf CLI, Form TalySurf Series, Ultra software, TalyMap, TalyProfile, TalyScan, Surtronic, TalyStep, Nanostep, PGI Novus (*.map, *.mod, *.prf, *.pro, *.sur, *.str, *.sth) |
UBM: MicroFocus (*.ub2, *.ub3, *.ua2, *.ua3) |
Confocal, Interference and Focus variation Microscopes |
4D Technology (*.h5) |
ADE Phase Shift/KLA-Tencor: MicroXAM (*.map, *.mat) |
Alicona: InfiniteFocus, MeX (*.al3d, *.alrl3d) |
Helicon: Focus variation files (*.h3d) |
Hirox: Digital Microscopes (*.csv, *.tdr) |
Keyence: Digital Microscopes (*.map, *vk3, *vk4) |
Lasertec: Optelics series (*.lms) |
Leica: DCM 3D, DVM (*.xml, *.jpg, *.tif) |
Lyncée-Tec: (*.dhm, *.bin) |
Nikon: Eclipse C1, Nexiv confocal and VMZ, BW-H (*.ics, *.raw, *.sdf) |
Olympus: LEXT (*.ols, *.lext) |
Sensofar: APX format (*.apx) |
Sensofar: PLµ series (*.plu) |
Siemens: SIScan MC64 Topographer (*.sip) |
Wyko: NT series (Bruker) (*.opd) |
Zeiss MicroImaging: LSM (*.lsm) |
Zemetrics: ZeGage (*.zmp) |
Zeta Instruments (*.zmg) |
Zygo: NewView series (*.dat, *.datx) |
Scanning Probe Microscopes |
RIBM: MS-NEX (*.asd) |
Topometrix (*.tfr, *.zfr) |
Generic and Additive Manufacturing formats |
ISO 5436-2: Softgauge Standard (*.smd) |
Open GPS (X3P): Open GPS XML format (ISO 25178-72) (*.x3p) |
Other Instruments and formats |
3D Shape: µKorad 3D (*.ki) |
Visuol Technologies/Techlab: Ondulo (*.res) |
Configuration requise
- Operating systems: Windows 10, 64 bits
- Recommended processor:
- standard use: multi-core processor
- intensive use*: multiple multi-core processors
- Disk: Minimum: 1 Gb of hard drive free space
- RAM:
- Minimum: 4GB
- Recommended: 8GB
- Recommended for intensive use*: 32GB
- Graphics:
- Minimum: OpenGL 2.0 or Direct X 9.0c support
- Recommended: Dedicated GPU 1 Gb
- Screen resolution:
- Minimum: 1280×768
- Recommended: Full HD
- Intensive use is considered:
- 3D SEM reconstruction with images bigger than 8 Megapixels
- Surface data files bigger than 8000×8000 points
- Large series of images/surfaces
- Can not install on a network computer
Informations de commande
Veuillez nous contacter directement si vous avez besoin d’informations supplémentaires ou d’un devis.
Code produit | Produit | Format |
978EALDB05871 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Basic Package | Download |
978EALDB06151 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis – Enhanced Edition | Download |
978EALDB06342 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis with Particle Analysis Add-On (Bundle) | Download |
978EALDB06359 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis with SPM Add-On (Bundle) | Download |
978EALDB06366 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis with SEM Add-On (Bundle) | Download |
978EALDB06373 | Wiley Surface-to-Spectral Analysis with Profiler Extension Add-On (Bundle) | Download |
978EALDB06168 | Particle Analysis Add-On | Download |
978EALDB06175 | SPM Add-On | Download |
978EALDB06182 | SEM Add-On | Download |
978EALDB06199 | Profiler Extension Add-On | Download |
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